簡要描述：耐壓測試是最常見的安規(guī)測試之一，常見的dielectric withstand、high potential、hipot test都是指耐壓測試。海思偉創(chuàng) HEX410/420/430七合一安規(guī)測試儀
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海思偉創(chuàng) HEX410/420/430七合一安規(guī)測試儀
1、 何謂耐壓測試?耐壓測試是最常見的安規(guī)測試之一，常見的dielectric withstand、high potential、hipot test都是指耐壓測試。耐壓測試的主要目的測試DUT(Device under Test)的絕緣能力。故當(dāng)設(shè)備在運(yùn)作時，對測試點施以一高壓，測試是否有絕緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生。2 、在安規(guī)中絕緣有幾種類型?絕緣類型分為四種：基本絕緣(Basic)、輔助絕緣(Supplementary)、雙重絕緣(Double)以及加強(qiáng)絕緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)部可能因灰塵過多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹?，因此也須以耐壓測試判斷產(chǎn)品內(nèi)部電路設(shè)計是否有沿面距離或絕緣不足等問題。3 、在AC耐壓測試時，為何需要real current 的判斷？AC輸出總電流(total current)可能因部份內(nèi)部容抗而造成與真實測試電流(real current)之間的差異。電流在輸出時，若受到較大容抗時，反應(yīng)電流(reactive)會較大，而使得真實測試電流相對變小。若無法準(zhǔn)確測量輸出電流與加以補(bǔ)償，會造成測試上的盲點。4 、在DC耐壓測試時，為何需要緩升時間？DC耐壓測試通常會需要加上緩升時間以及放電時間，因為大多的DUT具有電容性而會導(dǎo)致充電電流產(chǎn)生。為了使充電變位電流(charge current)穩(wěn)定，需要緩升時間來緩沖，才不會因充電電流而導(dǎo)致漏電流過高，進(jìn)而判斷為不良品(FAIL)。5 、在做耐壓測試時，為何需要緩降時間？耐壓測試會使DUT充電，因此在耐壓測試結(jié)束時須一段時間來進(jìn)行放電，優(yōu)良的耐壓測試設(shè)備會將放電時間減至最少，并且在未達(dá)放電標(biāo)準(zhǔn)前會明顯標(biāo)示危險警告，以防止測試人員不當(dāng)接觸而受到電氣傷害。6 、何謂flashover 電氣閃絡(luò)(ARC)?安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)中明顯指出不得有絕緣破壞(Breakdown)發(fā)生，而部份安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)更要求不得有電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生，但并無絕對測試標(biāo)準(zhǔn)。ARC是屬於電氣放電的一種，當(dāng)ARC發(fā)生時已表示絕緣能力已不足，若多次的ARC發(fā)生，則會導(dǎo)致絕緣破壞。
海思偉創(chuàng) HEX410/420/430七合一安規(guī)測試儀
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